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IC・BGAテスター

IC・BGAテスター

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概要

弊社のインサーキットテスター技術を使用した、以下の用途に最適なIC/BGAテスターです。
  • 半導体製造メーカ一・品質保証部門でIC/LSの不良解析を行う前に、フィールドから戻ってきた不良デバイス(おもに静電破壊)を選別するためのスクリーニング・チェッカーとして。
  • 半導体取扱企業(商社・メーカー等)が行う高価なIC/LSIテスターによる受入検査前に、粗悪なデバイスを選別するためのスクリーニング・チェッカーとして。
  • 半導体センサーデバイスのショート・オープンチェッカーとして。
定電圧印加電流測定と定電流印加電圧測定の2種類の測定が可能です。しきい値は10ランクの設定です。(自動測定)
測り方はデバイス単体でチェックします。テスト治具も製作可能です。
ソケットボードの交換で多種のデバイスに対応可能です。
基準値は良品デバイスからの吸い上げ方式の為、複雑なテストプログラム作成は不要です。
128ピン/枚のマルチプレクサボードを増設する事で最大2,048ピンまで拡張できます。

仕様

測定ポイント 標準1,024Pin 128Pin単位で増設、MAX2,048Pin
TESTステップ 無制限(記憶媒体に依る)
テストモード 定電圧印加 電流測定
定電流印加 電圧測定
テスト方式 1対多Pin総当りテスト
指定Pin間測定
しきい値 O,A,B,C,D,E,F,G,H,Sランク測定
(しきい値は測定により自動設定)
カーブトレース機能 標準装備

テスト画面
テスト画面
編集画面
編集画面
カーブトレース画面
カーブトレース画面

しきい値設定画面
しきい値設定画面
テストヘッド
テストヘッド
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