2007年1月17日〜19日インターネプコン展エレクトロテスト・ジャパンに新製品を出展しました

　2007年1月17日〜19日に東京ビッグサイトで行われたインターネプコン・エレクトロテスト・ジャパンに出展し、大変好評を得ました。

新製品 外観計測検査機 FOCUS 5000 GX	新製品 J-TAG・ICT・FUNCTION TESTER