半導体基板 外観計測検査機 Focus 5000 GX 新発売

この度、画像処理技術を利用した半導体検査装置「外観計測検査機 Focus(フォーカス) 5000 GX」を開発致しました。

独自の画像解析ソフトを使い、モデル品と完成品の誤差を数値で 判定致します。
検査だけでなく品質改善にも、お役に立てられます。

定価９８０万円にて２００７年４月に発売予定。

３００万画素の高性能デジタルカメラを使って鮮明な映像を撮影、はんだ付けのずれなど製品の誤差を判定致します。

検査の過程で蓄積した画像データを使えば生産工程の改善にもお役に立てられます。
例えば、不良品が発生する可能性を過去の統計傾向から事前に割り出し、製品不良が発生する前の微妙な変化を検出し、不良品発生を未然に防ぐ事が可能となります。

２００７年１月１７日付 日本経済新聞発表記事はこちら