Agilent Medalist i1000D
Agilent Medalist i1000D
 Agilent Medalist i1000D |
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业界最高的测试覆盖范围
搭载Agilent独有的专利技术，VTEP v2.0和珠探头技术，实现了业界最高水准的测试覆盖范围。
低成本治具，灵活的数字测试
使用压机式、手压式等低成本治具，使拥有全针技术的数字（PCF/VCL库基础的测试）测试，边界扫描，I2C/SPI串行编程等的高级功能变成了现实。
搭载Agilent最新技术
标准搭载组合边界扫描和VTEP的CET（扩张覆盖范围技术）的Agilent最新技术，可以检测出至今上能检出的电子元件（IC，SMT连接器）的电源引脚，接地引脚的引脚浮动的NPM（网络测试参数测定），可利用VTEP测试，进行无物理探头的访问。（一部分为可选项）
【Agilent Medalist VTEP v2.0】
实现改善ICT测试的测试覆盖范围。
特徵
・TESTJET的进化系统～少媒体测试的最新技术
・对应BGA、微型BGA
・也对应连接器的电源，接地，引脚
【扩张覆盖技术】
组合现有的边界扫描功能和VTEP技术，比起融合现有的Cover-Extend技术，就算上是对应边界扫描的器件们，没有探测针的限制，也可以检测出路径上良。
VTEP v2.0 Powered, with Cover-Extend Technology
【Agilent Agilent 珠探头技术】
新型ICT测试探测方法
关于ICT检查的访问方法
～问题点在哪里？
・没有测试点的生成空间
・对应高频的测试点的设置
解决这些问题。
【测试网络・参数测定(NPM)】
目的: 检测出高速传送信号连接器的电源引脚，接地引脚的浮动等
特徵
现今为止的检查技术，因为电源引脚，接地引脚的容量很大，无法进行仅静电容量的测试。而NPM则使这些测试变的可能。
仕样
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最大节点数 |
3456(针・ 卡：最大27枚) |
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模拟针・卡 |
Un-mux 128通道/枚 |
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数字针・卡 |
Un-mux 64通道/枚 |
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测试项目 |
内容 |
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开闭路测试 |
闭路针群的吸取方式 |
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模拟ICT测试 |
6线式测定 |
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模拟屏蔽针数 |
10 |
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少媒体测试技术 |
VTEP v2.0 |
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・BGA程度为止的IC/连接器/插槽的引脚浮动检查 |
VTEP |
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・微型BGA的引脚浮动检查 |
iVTEP |
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扩张覆盖技术 |
CET |
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・BGA程度为止的IC/连接器/插槽的引脚浮动检查 |
Yes |
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・微型BGA的引脚浮动检查 |
Yes |
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串行数据总线测试 |
I2C. SPI编程功能 |
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Boundary Scan测试 |
Yes |
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DIGITAL 测试 |
Yes |
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频率测试 |
Yes |
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AC/DC电压测试 |
Yes |
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工具 |
内容 |
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FPY报告 |
Yes |
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元件级别测试覆盖范围报告 |
Yes |
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产量改善测试 |
Yes |
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测试访问改善工具 |
Medalist Bead Probe技术 |
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面板测试 |
Yes |
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继电器等级诊断工具 |
Yes |
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SPC品质改善工具 |
Yes |
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